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“掃描開爾文”招標信息信息

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化學探針系統(tǒng)配件-掃描開爾文測試模塊項目編號JJ24000613公告開始日期*00公告截止日期*00采購單位東北大學付款方式無聯(lián)系人中標后在我參與的項目中查看聯(lián)系電話中標后在我參與的項目中查看簽約時間要求無到貨時間要求簽約后3個工作日內(nèi)預(yù) 算54850.0收貨 查看詳情>>
化學探針系統(tǒng)配件-掃描開爾文測試模塊項目編號JJ24000613公告開始日期*00公告截止日期*00采購單位東北大學付款方式無聯(lián)系人中標后在我參與的項目中查看聯(lián)系電話中標后在我參與的項目中查看簽約時間要求無到貨時間要求簽約后3個工作日內(nèi)預(yù) 算54850.0收貨 查看詳情>>
   鋁合金掃描開爾文測試

招標信息 | 2024-06-18丨 浙江

最少響應(yīng)量 掃描開爾文測試 服務(wù)類 5.0小時 5.0小時 報價地址:https://bs.norincogroup-ebuy.com/,寧波,0574- 查看詳情>>
   鋁合金掃描開爾文測試

招標信息 | 2024-06-07丨 浙江

最少響應(yīng)量 掃描開爾文測試 服務(wù)類 5.0小時 5.0小時 報價地址:https://bs.norincogroup-ebuy.com/,寧波,0574- 查看詳情>>
   微納分析測試系統(tǒng)采購項目

招標信息 | 2023-11-15丨 吉林

描探針聲學顯微鏡、掃描開爾文探針顯微鏡、壓電響應(yīng)力顯微鏡、掃描電容顯微鏡、高精度溫度控制器和冷熱一體控溫臺(控溫范圍:-20~200℃) 2.7電流檢測靈敏度:≤10pA;力檢測靈敏度:≤5pN 2.8一次掃描技術(shù),圖像分辨高達4096×4096物理象素,微米級掃描即可得到納米級的實際信息; 2.9 查看詳情>>
   西南大學原子力微納加工和表征儀采購更正公告

招標信息 | 2023-10-17丨 重慶

鏡、磁力顯微鏡、★掃描開爾文探針顯微鏡、V-I 特征曲線測定、★刻蝕和納米操作9. 應(yīng)可擴展的模式選項:升級納米壓痕儀、電化學掃描探針顯微鏡、掃描探針聲學顯微鏡、氛圍控制、液相功能、高壓功能(±150V)、加熱功能(150°C)。10.軟件及控制箱:兼容Windows 32/64 位7-11 代操作 查看詳情>>
   微納分析測試系統(tǒng)采購項目

招標信息 | 2023-10-13丨 吉林

描探針聲學顯微鏡、掃描開爾文探針顯微鏡、壓電響應(yīng)力顯微鏡、掃描電容顯微鏡、高精度溫度控制器和冷熱一體控溫臺(控溫范圍:-20~200℃) 2.7電流檢測靈敏度:≤10pA;力檢測靈敏度:≤5pN 2.8一次掃描技術(shù),圖像分辨高達4096×4096物理象素,微米級掃描即可得到納米級的實際信息; 2.9 查看詳情>>
≥4900V/s;掃描開爾文探針模塊的全功能鎖相放大器弱信號測試,信號通路:相敏檢測鎖相放大器和差分靜電計,頻率范圍:0.01Hz-250KHz,滿刻度靈敏度:20nV-1V;表面離子濃度測試模塊;探針移動監(jiān)視體式顯微鏡。技術(shù)能力:(1)主要針對低維量子材料和催化材料的微區(qū)電化學掃描信號分析和微型化 查看詳情>>
導(dǎo)電原子力顯微鏡 掃描開爾文探針顯微鏡 力調(diào)制模式成像技術(shù) 掃描電容顯微鏡 樣品溫度控制系統(tǒng)(控溫范圍:-20~150℃) 樣品加熱系統(tǒng)(控溫范圍:室溫~250℃) 售后服務(wù) 服務(wù)年限:36月;電話支持:5x24小時;質(zhì)保期:三年;  查看詳情>>
   中南大學-競價公告

招標信息 | 2023-06-28丨 湖南

靜電力模式;*8、掃描開爾文模式;*9、壓電力顯微鏡模式;技術(shù)指標:1.掃描器:*1.1采用新型柔性平板掃描器,XY與Z分離;1.2最大掃描范圍XYZ 100μm×100μm×10μm;1.3 Z方向噪音水平<0.04nm;*1.4輔助光學系統(tǒng):配置頂視和側(cè)視雙輔助光學系統(tǒng),500萬像素;2.控制系 查看詳情>>
導(dǎo)電原子力顯微鏡 掃描開爾文探針顯微鏡 力調(diào)制模式成像技術(shù) 掃描電容顯微鏡 樣品溫度控制系統(tǒng)(控溫范圍:-20~150℃) 樣品加熱系統(tǒng)(控溫范圍:室溫~250℃) 售后服務(wù) 服務(wù)年限:36月;電話支持:5x24小時;質(zhì)保期:三年; 報價地址:https://www.yuncaiton 查看詳情>>
、靜電力顯微鏡 、掃描開爾文探針顯微鏡/表面電勢顯微鏡、掃描電容顯微鏡、擴展電阻成像、壓電響應(yīng)力顯微鏡、AFM 力刻蝕、AFM電壓刻蝕、液相模式功能(1)大量程掃描器的掃描范圍不小于100×100×10μm(2)噪音水平:≤ 0.03nm(3)軟件自帶數(shù)字示波器(4)可以進行開環(huán)、閉環(huán)兩種方式掃描( 查看詳情>>
顯微鏡功能,可擴展掃描開爾文力顯微鏡功能等,并包含鎖相環(huán)模式。650G高速光波元件分析儀1要求50G高速光探測模塊具備高性能PIN探測器,單模光纖耦合輸入,具有高增益、高靈敏度、直流/交流耦合輸出、增益平坦等特點,主要應(yīng)用于高速光纖傳輸系統(tǒng)、ROF以及光纖傳感系統(tǒng)等領(lǐng)域。要求集成光座,可搭配網(wǎng)絡(luò)分析 查看詳情>>
等。4、電學模式:掃描開爾文顯微鏡(SKPM)表征材料表面電勢分布;靜電力顯微鏡(EFM)表征材料表面電荷分布。5、力學模式:動態(tài)和靜態(tài)力曲線測試。6、納米加工:納米刻蝕、納米操縱、陽極氧化刻蝕等。7、PFM壓電力顯微鏡、MFM磁場力顯微鏡等。目前國產(chǎn)設(shè)備無法完全滿足要求,故申請采購進口設(shè)備。 八、 查看詳情>>
等。4、電學模式:掃描開爾文顯微鏡(SKPM)表征材料表面電勢分布;靜電力顯微鏡(EFM)表征材料表面電荷分布。5、力學模式:動態(tài)和靜態(tài)力曲線測試。6、納米加工:納米刻蝕、納米操縱、陽極氧化刻蝕等。7、PFM壓電力顯微鏡、MFM磁場力顯微鏡等。目前國產(chǎn)設(shè)備無法完全滿足要求,故申請采購進口設(shè)備。八、論 查看詳情>>
80s等。2. 含掃描開爾文探針,針尖直徑為2毫米;測試頻率為0.1-10 Hz;+/-25mm的自動高度控制功能等3. 含表面光電壓譜系統(tǒng),具有SPV和SPS組件4. 含操作軟件,可視化數(shù)據(jù)操作150.00002023年05月無2材料電磁參數(shù)測試系統(tǒng)1. 頻率范圍:1MHz 至44 GHz2. 輸 查看詳情>>
鏡;靜電力顯微鏡;掃描開爾文顯微鏡;動態(tài)和靜態(tài)力曲線測試;力陣列測量;納米刻蝕;納米操縱。掃描范圍:X,Y方向的掃描范圍不低于30μm,Z方向不低于5μm。Z方向的噪音小于30pm。預(yù)計采購時間:2023-02備注: 本次公開的采購意向是本單位政府采購工作的初步安排,具體采購項目情況以相關(guān)采購公告和 查看詳情>>
鏡;靜電力顯微鏡;掃描開爾文顯微鏡;動態(tài)和靜態(tài)力曲線測試;力陣列測量;納米刻蝕;納米操縱。掃描范圍:X,Y方向的掃描范圍不低于30μm,Z方向不低于5μm。Z方向的噪音小于30pm。預(yù)計采購時間:2023-03備注: 本次公開的采購意向是本單位政府采購工作的初步安排,具體采購項目情況以相關(guān)采購公告和 查看詳情>>
   [HF20230132]掃描開爾文探針系統(tǒng)成交公告

招標信息 | 2023-02-15丨 上海

描開爾文探針系統(tǒng)2.成交供應(yīng)商名稱:科睿設(shè)備有限公司3.成交供應(yīng)商地址:上海市松花江路251弄白玉蘭廣場3號902室4.成交金額(幣種):(英鎊)54000.005.付款方式:信用證(L/C)。100%不可撤銷信用證 (其中90%為見單即付即期信用證,10%尾款憑用戶簽字的驗收合格報告支付)。6.主 查看詳情>>
。 4、電學模式:掃描開爾文顯微鏡(SKPM)表征材料表面電勢分布;靜電力顯微鏡(EFM)表征材料表面電荷分布。 5、力學模式:動態(tài)和靜態(tài)力曲線測試。 6、納米加工:納米刻蝕、納米操縱、陽極氧化刻蝕等。 7、PFM壓電力顯微鏡、MFM磁場力顯微鏡等。21000002023年04月 本次公開的采購意向 查看詳情>>
量與多場聯(lián)用系統(tǒng)、掃描開爾文探針顯微鏡、吸脫附-X射線衍射同步聯(lián)用表征技術(shù)。詳見采購合同。主要標的數(shù)量:原位X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀、紅外拉曼同步測量與多場聯(lián)用系統(tǒng)、掃描開爾文探針顯微鏡、吸脫附-X射線衍射同步聯(lián)用表征技術(shù)。詳見采購合同。主要標的單價:原位X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀、紅外拉曼同步測量與多場 查看詳情>>
電化學顯微鏡系統(tǒng)、掃描開爾文探針系統(tǒng) 、機械式高溫持久蠕變試驗機、50KN微機控制高溫電子萬能試驗機采購項目(HW2022055)自行采購邀請書時間:2022-12-16來源:作者:攝影: 編輯:黃慧上傳:南京工業(yè)大學貨物自行采購邀請書歡迎供應(yīng)商參與我校貨物(指儀器設(shè)備、軟件、家具)自行采購項目,請 查看詳情>>
電化學顯微鏡系統(tǒng)、掃描開爾文探針系統(tǒng) 、機械式高溫持久蠕變試驗機、50KN微機控制高溫電子萬能試驗機三、采購方式:集體談判四、采購內(nèi)容(一)貨物名稱、數(shù)量、預(yù)算分包號貨物名稱數(shù)量預(yù)算(萬元)備注一掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)139.8允許進口二掃描開爾文探針系統(tǒng)127允許進口三機械式高溫持久蠕變試驗機348 查看詳情>>
量與多場聯(lián)用系統(tǒng)、掃描開爾文探針顯微鏡、吸脫附-X射線衍射同步聯(lián)用表征技術(shù)。本項目共一個包,具體參數(shù)要求詳見招標文件。合同履行期限:自簽訂合同之日起90日內(nèi)安裝并調(diào)試完成本項目(是/否)接受聯(lián)合體投標:否二、申請人的資格要求 1.滿足《中華人民共和國政府采購法》第二十二條規(guī)定;①在中華人民共和國境內(nèi) 查看詳情>>
量與多場聯(lián)用系統(tǒng)、掃描開爾文探針顯微鏡、吸脫附-X射線衍射同步聯(lián)用表征技術(shù)。本項目共一個包,具體參數(shù)要求詳見招標文件。合同履行期限:自簽訂合同之日起90日內(nèi)安裝并調(diào)試完成本項目(是/否)接受聯(lián)合體投標:否二、申請人的資格要求1.滿足《中華人民共和國政府采購法》第二十二條規(guī)定;①在中華人民共和國境內(nèi)注 查看詳情>>
量與多場聯(lián)用系統(tǒng)、掃描開爾文探針顯微鏡、吸脫附-X射線衍射同步聯(lián)用表征技術(shù)。本項目共一個包,具體參數(shù)要求詳見招標文件。合同履行期限:自簽訂合同之日起90日內(nèi)安裝并調(diào)試完成本項目(是/否)接受聯(lián)合體投標:否二、申請人的資格要求 1.滿足《中華人民共和國政府采購法》第二十二條規(guī)定;①在中華人民共和國境內(nèi) 查看詳情>>
鏡,靜電力顯微鏡,掃描開爾文顯微鏡,力曲線模式,力陣列測量,納米刻蝕,納米操縱,高次諧波成像模式,雙頻共振追蹤模式;X,Y方向的掃描范圍不低于30μm,Z方向不低于5μm;光電檢測器帶寬:不低于7MHz。3、投標人資格要求投標人應(yīng)具備的資格或業(yè)績:1)投標人須為具有獨立法人資格,有能力提供招標文件所 查看詳情>>
像、表面電勢成像、掃描開爾文探針模式、AM-FM黏彈性力成像模式和接觸共振成像模式等。 2.7氣相探針夾持器。 2.8液相探針夾持器。 2.9激光模塊:標準激光二極管:10×30 μm光斑尺寸。 3環(huán)境控制系統(tǒng): 3.1一體化的密封環(huán)境控制腔,探針夾持器與樣品腔即可組成密閉式樣品 查看詳情>>
鏡,靜電力顯微鏡,掃描開爾文顯微鏡,力曲線模式,力陣列測量,納米刻蝕,納米操縱,高次諧波成像模式,雙頻共振追蹤模式;X,Y方向的掃描范圍不低于30μm,Z方向不低于5μm;光電檢測器帶寬:不低于7MHz。3、投標人資格要求投標人應(yīng)具備的資格或業(yè)績:1)投標人須為具有獨立法人資格,有能力提供招標文件所 查看詳情>>
鏡,靜電力顯微鏡,掃描開爾文顯微鏡,力曲線模式,力陣列測量,納米刻蝕,納米操縱,高次諧波成像模式,雙頻共振追蹤模式;X,Y方向的掃描范圍不低于30μm,Z方向不低于5μm;光電檢測器帶寬:不低于7MHz。3、投標人資格要求投標人應(yīng)具備的資格或業(yè)績:1)投標人須為具有獨立法人資格,有能力提供招標文件所 查看詳情>>
振動電極測量模塊;掃描開爾文(Kelvin)探針模塊;掃描電化學顯微鏡模塊;掃描微液體系統(tǒng);激光形貌測試系統(tǒng);離子濃度測試模塊等。采購數(shù)量1臺。240天內(nèi)交貨,由貨物制造廠商提供3年或以上免費上門保修服務(wù),終身維保。預(yù)計采購時間:2022-12備注: 本次公開的采購意向是本單位政府采購工作的初步安排 查看詳情>>
鏡;靜電力顯微鏡;掃描開爾文顯微鏡;力曲線模式;納米刻蝕;納米操縱;3密閉式電化學液池密閉式電化學液池模塊:能夠構(gòu)造密閉的電化學溶液環(huán)境進行表面形貌以及雙電子層等測試。4壓電力顯微鏡模式★壓電力顯微鏡模式:系統(tǒng)具有DART-PFM模式和Switching spectroscopy PFM模式。最高測 查看詳情>>
電化學池1個 三、掃描開爾文探針顯微鏡(53萬元)主要技術(shù)指標A.機械部分:1. 高速控制器系統(tǒng). 系統(tǒng)噪音水平:< 0.2? RMS,控制器內(nèi)置不少于三個鎖向放大器 2. 掃描器1個(標準掃描器范圍:X-Y-Z:10-20μm? 10-20μm ?2 μm;) 3. 不受樣品反射率的影響;不 查看詳情>>
FM)3.1.10掃描開爾文顯微鏡(Kelvin probe force microscopy,含AM-KPFM和FM-KPFM)3.1.11掃描電容顯微鏡(Scanning Capacitance Microscopy, SCM)3.1.12力曲線測試(Force curve)3.1.13力陣列測 查看詳情>>
鏡、靜電力顯微鏡、掃描開爾文顯微鏡(含AM-KPFM和FM-KPFM)、掃描電容顯微鏡、力曲線測試、力陣列測量、力調(diào)制模式、抬高模式、納米刻蝕、納米操縱、導(dǎo)電力模式;Raman采用 Czerny Turner 全反射式消色差校像散單級光譜儀,開放式顯微鏡,325、532、633、785四種波長激光器 查看詳情>>
敲模式、接觸模式、掃描開爾文顯微鏡和快速PFM模式等19種模式任意切換。2.掃描器:掃描器須是X、Y、Z三軸分離的掃描器;同一掃描器即可實現(xiàn):X,Y方向的掃描范圍≥120μm,Z方向≥15μm;系統(tǒng)高度噪音≤ 50pm(Adev,1Hz到1KHz帶寬);系統(tǒng)光學噪音≤ 15pm。3.控制器:至少兩個 查看詳情>>
微鏡、磁力顯微鏡、掃描開爾文顯微鏡、雙模態(tài)力學成像、靜電力顯微技術(shù)、力曲線測試、納米刻蝕、納米操縱。特殊工作模式包括:1.高壓PFM,150V電壓輸出;2.快速力譜成像,樣品模量測試的適應(yīng)范圍為10kpa-100Gpa,力曲線測量速度優(yōu)于1kHz;3.CAFM,曲線測試。電流測試范圍1pA-20nA 查看詳情>>
敲模式、接觸模式、掃描開爾文顯微鏡和快速PFM模式等19種模式任意切換。2.掃描器:掃描器須是X、Y、Z三軸分離的掃描器;同一掃描器即可實現(xiàn):X,Y方向的掃描范圍≥120μm,Z方向≥15μm;系統(tǒng)高度噪音≤ 50pm(Adev,1Hz到1KHz帶寬);系統(tǒng)光學噪音≤ 15pm。3.控制器:至少兩個 查看詳情>>
電學相關(guān)信息,比如掃描開爾文探針功能,能夠測量材料納米尺度的表面電勢、載流子類型,同時支持納米光電流和導(dǎo)電原子力功能,能夠定量測量材料的電學性質(zhì)。1.采用散射式近場結(jié)構(gòu)設(shè)計,支持兩束獨立的光路同時聚焦在針尖采樣位置,能夠適應(yīng)可見光、紅外光、到太赫茲光的超分辨成像 ;2.支持贗外差成像,支持至少2個獨 查看詳情>>
FM)3.1.10掃描開爾文顯微鏡(Kelvin probe force microscopy,含AM-KPFM和FM-KPFM)3.1.11掃描電容顯微鏡(Scanning Capacitance Microscopy, SCM)3.1.12力曲線測試(Force curve)3.1.13力陣列測 查看詳情>>
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